掃描電子顯微鏡

瀏覽量:23 作者: 來源:中國制漿造紙研究院有限公司 時間:2019-03-19 【字號:

規格型號:S-3400N

技術參數:分辨率3.0nm(30kv)高真空模式,分辨率1.0nm(3kv)高真空模式,BSE分辨率4.0nm(30kv)低真空模式,放大倍率5×~300,000×,加速電壓0.3~30kv,低真空壓強范圍6~270Pa。

功能/用途:利用細聚焦電子束掃描樣品表面,從樣品激發出來的各種物理信號來調制成像,其中二次電子和背散射電子觀察試樣的形貌。掃描電鏡在制漿造紙領域被用來觀察纖維、紙張、無機物的表面形貌分析,也廣泛應用在材料、化工、食品等領域。

 

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